Электроника

Владимир Гуревич. Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы

Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы

В книге рассмотрены устройство и принцип действия микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) на примерах конкретных типов современных МУРЗ ведущих мировых производителей. Для облегчения понимания текста энергетиками, работающими с МУРЗ, но не являющимися специалистами в области электроники, приведено подробное описание элементной базы МУРЗ, устройства и принципов действия транзисторов, тиристоров, оптронов, реле.

Рассматриваются конкретные проблемы надежности отдельных функциональных узлов МУРЗ, а также вопросы, касающиеся методики оценки надежности и эффективности МУРЗ. Подробно рассмотрены вопросы электромагнитных воздействий на МУРЗ как естественных, так и преднамеренных, кибербезопасности.
Книга рассчитана на инженеров и техников, занимающихся эксплуатацией релейной защиты, а также может быть полезна конструкторам, занимающимся разработкой МУРЗ, преподавателям и студентам соответствующих специальностей средних и высших учебных заведений.

Содержание:

  • Предисловие

Глава I. Элементная база
  • Полупроводниковые материалы и приборы
  • Принцип действия транзистора
  • Некоторые другие типы транзисторов
  • Основные режимы работы транзисторов
  • Логические элементы на транзисторах
  • Тиристоры
  • Оптроны
  • Электромагнитные реле
  • Полупроводниковые управляющие устройства (драйверы) для электромеханических реле

Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
  • Общая структура и конструктивное исполнение микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ)
  • Модули аналоговых входов
  • Модули выходных реле
  • Модули цифровых (логических) входов
  • Модуль центрального процессора
  • Внутренний источник питания
  • Система самодиагностики МУРЗ
  • Новая концепция построения МУРЗ
  • Литература к главе II

Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
  • Мифы о надежности МУРЗ
  • Выходные электромагнитные реле: проблемы и решения
  • Логические входы: проблемы и решения
  • Реальные данные о надежности МУРЗ
  • Проблемы оценки надежности МУРЗ
  • Литература к главе III

Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
  • Чувствительность МУРЗ к электромагнитным воздействиям
  • Грозовые разряды
  • Коммутационные процессы и электромагнитные поля от работающего оборудования
  • Проблемы экранирования контрольных кабелей
  • Искажения сигналов в цепях трансформаторов тока
  • Влияние на МУРЗ гармоник в измеряемом напряжении и токе
  • Качество напряжения в питающей сети
  • Преднамеренные деструктивные электромагнитные воздействия
  • Кибербезопасность
  • Литература к главе IV

Издательство: Инфра-Инженерия
Год издания: 2011
Страниц: 336
ISBN: 978-5-9729-0043-5
Формат: DjVu
Качество: отличное

 

Скачать книгу «Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы» (10,7 МБ):

deposit_rumit 04/03/23 Просмотров: 2302
+1