Владимир Гуревич. Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы
![Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы](/media/files/u748422/07/MURZ_cwer.jpg)
В книге рассмотрены устройство и принцип действия микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) на примерах конкретных типов современных МУРЗ ведущих мировых производителей. Для облегчения понимания текста энергетиками, работающими с МУРЗ, но не являющимися специалистами в области электроники, приведено подробное описание элементной базы МУРЗ, устройства и принципов действия транзисторов, тиристоров, оптронов, реле.
Рассматриваются конкретные проблемы надежности отдельных функциональных узлов МУРЗ, а также вопросы, касающиеся методики оценки надежности и эффективности МУРЗ. Подробно рассмотрены вопросы электромагнитных воздействий на МУРЗ как естественных, так и преднамеренных, кибербезопасности.
Книга рассчитана на инженеров и техников, занимающихся эксплуатацией релейной защиты, а также может быть полезна конструкторам, занимающимся разработкой МУРЗ, преподавателям и студентам соответствующих специальностей средних и высших учебных заведений.
Содержание:
- Предисловие
Глава I. Элементная база
- Полупроводниковые материалы и приборы
- Принцип действия транзистора
- Некоторые другие типы транзисторов
- Основные режимы работы транзисторов
- Логические элементы на транзисторах
- Тиристоры
- Оптроны
- Электромагнитные реле
- Полупроводниковые управляющие устройства (драйверы) для электромеханических реле
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
- Общая структура и конструктивное исполнение микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ)
- Модули аналоговых входов
- Модули выходных реле
- Модули цифровых (логических) входов
- Модуль центрального процессора
- Внутренний источник питания
- Система самодиагностики МУРЗ
- Новая концепция построения МУРЗ
- Литература к главе II
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
- Мифы о надежности МУРЗ
- Выходные электромагнитные реле: проблемы и решения
- Логические входы: проблемы и решения
- Реальные данные о надежности МУРЗ
- Проблемы оценки надежности МУРЗ
- Литература к главе III
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
- Чувствительность МУРЗ к электромагнитным воздействиям
- Грозовые разряды
- Коммутационные процессы и электромагнитные поля от работающего оборудования
- Проблемы экранирования контрольных кабелей
- Искажения сигналов в цепях трансформаторов тока
- Влияние на МУРЗ гармоник в измеряемом напряжении и токе
- Качество напряжения в питающей сети
- Преднамеренные деструктивные электромагнитные воздействия
- Кибербезопасность
- Литература к главе IV
Издательство: Инфра-Инженерия
Год издания: 2011
Страниц: 336
ISBN: 978-5-9729-0043-5
Формат: DjVu
Качество: отличное
Скачать книгу «Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы» (10,7 МБ):
deposit_rumit 04/03/23 Просмотров: 2420
+1